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A JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (www.jeol.com)
(presidente - Gon-emon Kurihara) anuncia o lançamento de um novo
microscópio eletrônico de varredura (Scanning Electron Microscope, SEM)
de bancada, NeoScopeTM série JCM-7000, que será lançado em
março de 2019.
Este comunicado de imprensa inclui multimédia. Veja o comunicado completo aqui:
https://www.businesswire.com/news/home/20190311005962/pt/
JCM-7000 NeoScope(TM) Benchtop Scanning Electron Microscope (Photo: Business Wire)
Histórico do desenvolvimento do produto
Os microscópios eletrônicos de varredura de bancada são usados em
inúmeros setores, como elétrico, eletrônica, automotivo, máquinas,
químico e farmacêutico. Além disso, as aplicações do SEM estão sendo
ampliadas, não apenas para abranger pesquisa e desenvolvimento, como
também para atender a inspeções de produto e controle de qualidade em
fábricas. Como resultado, está aumentando a procura por uma eficiência
de trabalho ainda melhor, uma operação muito mais rápida e fácil e de um
nível mais alto de capacidades de medição e analíticas.
Com base no predecessor premiado e altamente bem-sucedido dos nossos
SEMs série InTouchScopeTM, desenvolvemos um novo SEM de
bancada, JCM-7000, para atender a estas crescentes exigências do
mercado. A série JCM-7000 incorpora funções inovadoras, comparáveis às
da série InTouchScopeTM. Os recursos da série JCM-7000
incluem 1) interface gráfica simples para alta operabilidade, 2) pequena
área ocupada, 3) transição direta da geração de imagens de microscopia
óptica para geração de imagens do SEM com a função “Zeromag”, 4) análise
de elementos em tempo real durante a observação de imagens com a função
“Live Analysis”, e 5) plataforma motorizada biaxial (X, Y) para uma
operação sem intercorrências.
Além disso, o JCM-7000 vem com a função “Live 3D”, que exibe
simultaneamente uma imagem do SEM em tempo real e uma imagem de
superfície 3D reconstruída em tempo real. Esta nova capacidade também
permite ao usuário obter informações topográficas e de profundidade da
amostra, juntamente com informações de imagem do SEM a partir da
superfície da amostra.
Principais recursos
-
Com a nossa função “Zeromag”, a navegação nas amostras é ainda mais
fácil do que nunca. A “Zeromag”, que vincula a imagem CCD com
informações de cor com a imagem do SEM sobre os detalhes da
superfície, permite que o usuário encontre rapidamente áreas para
geração de imagens e análise.
-
Com a ajuda de uma plataforma motorizada biaxial (X, Y), a eficiência
do trabalho é aprimorada e as imagens para montagem podem ser
facilmente coletadas para uma grande área da amostra.
-
Com a nossa série Analytical (analítica) (função “Live Analysis”), o
sistema EDS integrado exibe um espectro EDS em tempo real durante a
observação da imagem, para uma análise de elementos rápida e eficiente.
-
Uma nova função “Live 3D” permite a observação simultânea de uma
imagem do SEM e uma imagem de superfície 3D reconstruída em tempo
real, juntamente com a aquisição de informações topográficas e de
profundidade.
Meta anual de vendas da unidade
400 unidades/ano
JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tóquio, 196-8558, Japão
Gon-emon
Kurihara, presidente e diretor representante
(Código de ações:
6951, primeira seção da Bolsa de Valores de Tóquio)
www.jeol.com
O texto no idioma original deste anúncio é a versão oficial autorizada.
As traduções são fornecidas apenas como uma facilidade e devem se
referir ao texto no idioma original, que é a única versão do texto que
tem efeito legal.
Ver a versão original em businesswire.com: https://www.businesswire.com/news/home/20190311005962/pt/
Contato:
JEOL Ltd.
Divisão de vendas de instrumentos de medição e ciência
Naohiko
Kaneda
+81-3-6262-3560
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html
Fonte: BUSINESS WIRE